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2011년 추계 학술대회

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한글제목(Korean Title) 임베디드 시스템을 위한 ARM NEON 기술의 신뢰성 분석
영문제목(English Title) Reliability Analysis of ARM NEON Technology for Embedded Systems
저자(Author) 장민우   김국현   김강희   MinWoo Jang   Kukhyun Kim   Kanghee Kim  
원문수록처(Citation) VOL 38 NO. 2(A) PP. 0044 ~ 0046 (2011. 11)
한글내용
(Korean Abstract)
 본 논문에서는 ARM Cortex-A8 프로세서에서 지원하는 NEON SIMD 기술의 성능을 실험 및 평가한다. 특히 NEON SIMD 기술을 사용하는 방법들 중 자동 벡터화로 여러 개의 오픈 소스 애플리케이션들을 실험한다. 바이너리 크기, 데이터 크기 별 실행 시간을 비교 하여 임베디드 시스템에서 중요시 되는 프로그램 실행 이미지 크기, 실행 시간을 측정한다. 실험 평가의 결과를 통해 NEON 기술을 적용할 경우 성능 평가 요소인 프로그램 크기와 실시간성이 모두 임베디드 시스템의 성능에 중요한 영향을 미치지만, 성능 평가 요소가 모두 향상되는 경우는 드물다는 것을 보여준다.

영문내용
(English Abstract)
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