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정보과학회 논문지 B : 소프트웨어 및 응용

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한글제목(Korean Title) 독립성분분석을 이용한 TFT-LCD불량의 검출
영문제목(English Title) Detection of TFT-LCD Defects Using Independent Component Analysis
저자(Author) 박노갑   이원희   유석인  
원문수록처(Citation) VOL 34 NO. 05 PP. 0447 ~ 0454 (2007. 05)
한글내용
(Korean Abstract)
최근 TFT-LCD (Thin film transistor liquid crystal display)패널의 수요증가에 비례하여 공정상 발생하는 LCD 불량의 수도 증가하고 있다. LCD 불량은 배경화면과 미세한 밝기대비 차이를 가지는 패널상의 불균등한 영역으로서 크게 정형과 비정형으로 나누어지며 사람의 눈에 매끄럽지 않게 보여진다. 이러한 불량은 배경과의 대비 차이가 미세하여 기존의 임계수준 검출이나 윤곽선 검출로는 불량을 검출할수 없다. 본 논문은 비정형 LCD 불량을 독립성분분석, 적응 임계수준 검출 그리고 왜도를 이용하여 검출하는 방법을 제시한다. 본 검출방법은 잡음이 심한 영상에 대해서도 대응력이 뛰어나며, 생산라인에서 성공적으로 적용된다.
영문내용
(English Abstract)
TFT-LCD(Thin Film transistor liquid crystal display) has become actively used front panel display technology with increasing market. Intrinsically there is region of non uniformity with low contrast that to human eye is perceived as defect. As the gray level difference between the defect and the background is hardly distinguishable, conventional thresholding and edge detection techniques cannot be applied to detect the defect. Between the patterned and un-patterned LCD defects, this paper deals with un-patterned LCD defects by using independent component analysis, adaptive thresholding and skewness. Our method showed strong results even on noised LCD images and worked successfully on the manufacturing line. 
키워드(Keyword) TFT-LCD   LCD 불량   독립성분분석   왜도   LCD defect   Independent component analysis   skewness  
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