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제목 [반도체공학회] 제1회 반도체 측정분석/ 신뢰성 기술 워크숍

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개최일 2019.09.19 등록일 2019.08.28
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[반도체공학회] 제1회 반도체 측정분석/ 신뢰성 기술 워크숍
일 시 : 2019년 9월 19일(목)
장 소 : 한국반도체산업협회회관 9층 교육장
프로그램
09:00 ~ 09:30 등록
09:30 ~ 10:50 반도체 Fab 측정 및 검사의 기초 및 응용 : 이병호 상무 (SK하이닉스)
- Fab 측정 및 검사의 기초
- 최신 응용
11:00 ~ 12:20 나노분석의 기초 및 응용 : 양준모 박사 (나노종합기술원)
- 나노분석의 기초
- 구조분석(TEM/SEM/FIB 등)
- 표면분석(SIMS, XPS, AES 등)
13:30 ~ 14:50 반도체 고장 분석 절차 및 고장 메커니즘 : 김상아 수석 ((주)큐알티)
- 고장 분석 절차 및 장비
- 고장 메커니즘 및 사례 (Delamination/Whisker/EM/Corrosion/ESD&EOS)
15:00 ~ 16:20 신뢰성분석의 기초 및 응용 : 장효성 박사 ((주)뉴턴)
- 신뢰성이란 무엇인가?
- Preconditioning test의 목적과 불량 예방
- Long term reliability test의 목적과 불량 예방
16:30 ~ 17:50 소자분석의 기초 및 응용 : 최우영 교수 (서강대학교)
- 반도체 소자분석의 기초
- 전기적 특성 측정 및 분석
17:50 ~ 18:00 폐회사

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